SGC-1A橢圓偏振測厚儀近代科學(xué)技術(shù)的許多學(xué)科對各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛，因此，測得薄膜厚度和光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實(shí)際工作中，常常使用橢圓偏振法來進(jìn)行測量。這種方法測量靈敏度和精度較高，并且是非破壞性測量。他能同時測定薄膜的厚度和折射率。

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